Proyek riset & pengembangan

Hidden Effects of Extreme Environments on Space Microelectronics

Ringkasan tujuan riset

Pengaruh suhu ekstrem dan dosis ionisasi pada mikroelektronika diteliti melalui termodinamika nonekuilibrium untuk memahami kerusakan laten serta kebutuhan rancangan perangkat daya.

Elektronik & semikonduktor1 rujukanProfil diperbarui
Linimasa NASA TechPort 92658Periode tercatat 2016-10-01 sampai 2018-10-01. TRL: awal 1, saat akses 1, target 2. Target bukan hasil.NASA TechPort 92658MulaiAkhir tercatat201620192016-10-012018-10-01TRL 1–9Awal1Saat akses1Target2
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Proyek riset & pengembanganHEESM

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan NASA TechPort. Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Penelitian ini mempelajari bagaimana cacat akibat dosis ionisasi total berkaitan dengan produksi entropi dan perubahan kinerja mikroelektronika antariksa. Fokusnya mencakup kerusakan laten pada elektronika dingin serta prinsip rancangan material untuk operasi pada suhu ekstrem. Kajian melibatkan keahlian perangkat silikon tegangan tinggi dan konverter panas menjadi listrik. Tujuannya adalah mengidentifikasi efek yang perlu didiagnosis atau dikompensasi dalam perangkat, sebelum temuan tersebut diterapkan pada sistem daya misi berlingkungan keras.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi pemimpin
Jet Propulsion Laboratory
Program
Center Independent Research & Development: JPL IRAD
Periode proyek
2016-10-01 → 2018-10-01

Klasifikasi NASA

  • TX02.3.2 — Space Radiation Analysis and Modeling

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status proyek menurut NASACompleted
Awal proyekTRL 1
Tercatat saat aksesTRL 1
Target akhirTRL 2

TRL adalah tingkat kesiapan teknologi yang dilaporkan penerbit, pada skala 1–9. Nilai target akhir menunjukkan sasaran. Status “Completed” berarti proyek telah selesai menurut pencatatan NASA; status tersebut tidak membuktikan bahwa seluruh sasaran kinerja telah tercapai.

Batas informasi

Profil ini menjelaskan ruang lingkup riset dari catatan penerbit. Target pengembangan dan TRL akhir bukan bukti keberhasilan, ketersediaan produk, atau kelayakan penerapan. Tinjauan ahli dan pengujian performa independen belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NASA.