Proyek riset & pengembangan

NSF-DFG MISSION: Surface analysis & Correlative imaging using Operando Secondary Ion Mass Spectrometry (SCOPE-SIMS)

Ringkasan tujuan riset

SCOPE-SIMS mengembangkan analisis permukaan operando untuk melacak kimia antarmuka baterai keadaan padat dan mengaitkan degradasi molekuler dengan kehilangan kapasitas.

Energi1 rujukanProfil diperbarui
Linimasa NSF 2404376Periode tercatat 2024-09-01 sampai 2027-08-31.NSF 2404376MulaiAkhir tercatat202420282024-09-012027-08-31
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Proyek riset & pengembangan

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan National Science Foundation (NSF). Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Sel elektrokimia khusus memungkinkan pemetaan ToF-SIMS selama siklus baterai dengan katode NMC, elektrolit sulfida dan anoda silikon. Studi pelabelan menelusuri jalur transport litium, lalu dibandingkan dengan analisis pascamortem serta dinamika molekuler. Pembelajaran mesin menghubungkan spektrum dengan degradasi. Pengaruh pelapis, pengikat dan ukuran partikel terhadap kestabilan akan diuji, sebagai dasar rekayasa antarmuka untuk menekan retak, dendrit dan film resistif.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi penerima pada catatan
William Marsh Rice University
Program
EchemS-Electrochemical Systems
Periode pendanaan tercatat
2024-09-01 → 2027-08-31

Proyek kolaboratif beberapa institusi diwakili oleh satu catatan penghargaan. Institusi di atas adalah penerima pada catatan tersebut.

Klasifikasi NSF

  • Directorate for Engineering
  • Chemical, Bioengineering, Environmental, & Transport Systems

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status pendanaan menurut NSFAktif (catatan pendanaan NSF)

Catatan NSF tidak melaporkan tingkat kesiapan teknologi (TRL). Status pendanaan aktif atau berakhir bukan bukti keberhasilan riset.

Batas informasi

Profil merangkum tujuan dan pendekatan dalam abstrak pendanaan NSF. Status pendanaan tidak membuktikan keberhasilan riset, kesiapan teknologi, atau ketersediaan produk. Hasil dan performa belum diverifikasi secara independen; tinjauan ahli belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NSF.