Proyek riset & pengembangan

EAGER: Collaborative Research: In situ Thermal-mechanical Localization Metrology for Advanced 3D Packaging

Ringkasan tujuan riset

Metrologi Raman in situ dikembangkan untuk mengukur suhu dan tegangan lokal di dalam kemasan chip tiga dimensi, memakai pandu gelombang untuk menjangkau wilayah tertutup.

Optik, instrumentasi & media1 rujukanProfil diperbarui
Linimasa NSF 2622185Periode tercatat 2026-09-01 sampai 2028-08-31.NSF 2622185MulaiAkhir tercatat202620292026-09-012028-08-31
Linimasa dan catatan proyek

Tanggal dan TRL menurut catatan penerbit. Akhir periode dan target bukan bukti hasil riset.

Teknologi · CC BY 4.0 · Sumber data

Proyek riset & pengembangan

Apa tujuan dan pendekatan risetnya?

Profil ini merangkum ruang lingkup proyek yang dipublikasikan National Science Foundation (NSF). Sumber diakses . Uraian pendekatan dan manfaat menyatakan tujuan pengembangan, kecuali sumber secara khusus melaporkan hasil.

Desain fotonik dipadukan dengan kendaraan uji kemasan agar probe mikro-Raman mencapai area antartumpukan tanpa banyak mengubah lingkungan termomekanisnya. Strategi integrasi yang mempertahankan hamburan Raman kuat dan proses fabrikasi andal akan diteliti. Demonstrasi selama operasi perangkat menargetkan hotspot serta konsentrasi tegangan pada resolusi submikron. Pengukuran menghubungkan pembangkitan panas lokal dengan mikrostruktur sebagai dasar inspeksi dan desain kemasan yang lebih andal.

Baca uraian penerbit

Konteks pengembangan

Institusi penerima pada catatan
Cornell University
Program
AM-Advanced Manufacturing
Periode pendanaan tercatat
2026-09-01 → 2028-08-31

Proyek kolaboratif beberapa institusi diwakili oleh satu catatan penghargaan. Institusi di atas adalah penerima pada catatan tersebut.

Klasifikasi NSF

  • Directorate for Engineering
  • Civil, Mechanical, & Manufacturing Innovation

Label penerbit dipertahankan sebagai konteks. Bidang katalog merupakan pengelompokan editorial.

Apa yang diketahui tentang statusnya?

Status pendanaan menurut NSFAktif (catatan pendanaan NSF)

Catatan NSF tidak melaporkan tingkat kesiapan teknologi (TRL). Status pendanaan aktif atau berakhir bukan bukti keberhasilan riset.

Batas informasi

Profil merangkum tujuan dan pendekatan dalam abstrak pendanaan NSF. Status pendanaan tidak membuktikan keberhasilan riset, kesiapan teknologi, atau ketersediaan produk. Hasil dan performa belum diverifikasi secara independen; tinjauan ahli belum dilakukan.

Dasar profil

Metodologi dan batas pemeriksaan. Ringkasan berbahasa Indonesia disusun sebagai parafrasa editorial dengan pemeriksaan sumber primer oleh agen AI. Identitas, periode, serta status berasal dari catatan penerbit. Tinjauan ahli dan pengujian kinerja independen belum dilakukan; rujukan tidak menyiratkan dukungan atau sertifikasi NSF.